초순수 UPW 오염 제어 / 20nm 파티클 카운트
2020 Ultrapure Micro 이벤트에서 Glen Slayter, Intel 및 Dan Rodier, Particle Measuring Systems가 발표했습니다. 20nm만큼 작은 초순수(UPW) 입자의 이점과 모니터링에 대한 이 사례 연구를 시청하십시오. Ultra DI 20 Plus 파티클 카운터 에 대해 자세히 알아보십시오.
오직 Particle Measuring Systems만이 물과 화학물질에 대한 검증되고 신뢰할 수 있는 20nm 파티클 카운팅 솔루션을 보유하고 있습니다 .
